在掃描電鏡、電子探針分析領域里,利用陰極發光技術研究晶態材料和礦物中的晶體缺陷、雜質元素的存在形式,礦物成因和礦物中微量元素的地球化學作用以及礦物在不同地質環境下的某些標型特征等問題,是一種很有潛力的礦物學研究方法,已經在材料科學、礦物學、巖石學、地球化學以及礦床學等學科中取得了很大的成就。
迄今(jin)為至,陰(yin)極發(fa)光(guang)技(ji)(ji)術(shu)應(ying)用(yong)得(de)最成(cheng)功(gong)的(de)(de)(de)(de)(de)領域要算是(shi)地(di)(di)質(zhi)(zhi)學(xue)(xue)(xue)(xue),而地(di)(di)質(zhi)(zhi)學(xue)(xue)(xue)(xue)中最成(cheng)功(gong)的(de)(de)(de)(de)(de)一個(ge)應(ying)用(yong)范圍便是(shi)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)學(xue)(xue)(xue)(xue)。由于現代技(ji)(ji)術(shu)方(fang)(fang)法和(he)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)、化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)(xue)理(li)(li)(li)論的(de)(de)(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)古老的(de)(de)(de)(de)(de)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)學(xue)(xue)(xue)(xue)與固(gu)體(ti)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)、量子(zi)(zi)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)(xue)相結合(he)(he)形成(cheng)了(le)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)學(xue)(xue)(xue)(xue),反過(guo)來又直(zhi)接影響著地(di)(di)質(zhi)(zhi)學(xue)(xue)(xue)(xue)。礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)是(shi)在(zai)(zai)大自然這(zhe)個(ge)規模宏大的(de)(de)(de)(de)(de)實驗室中形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de) 天(tian)(tian) 然 化(hua)(hua)(hua)合(he)(he)物(wu)(wu)(wu)。長期而又復(fu)雜(za)的(de)(de)(de)(de)(de)地(di)(di)質(zhi)(zhi)過(guo)程控制了(le)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)(de)(de)(de)形成(cheng)變化(hua)(hua)(hua),在(zai)(zai)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)中留(liu)下了(le)各(ge)種各(ge)樣的(de)(de)(de)(de)(de)痕(hen)跡(ji)。天(tian)(tian) 然 礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)結構類型眾多(duo),且(qie)具有(you)不同的(de)(de)(de)(de)(de)雜(za)質(zhi)(zhi)和(he)缺陷,造(zao)成(cheng)了(le)各(ge)種特異性能(neng)。陰(yin)極發(fa)光(guang)是(shi)獲得(de)這(zhe)些信(xin)息的(de)(de)(de)(de)(de)有(you)效方(fang)(fang)法之(zhi)一。比(bi)較這(zhe)種礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)本身攜(xie)帶的(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)息,有(you)可(ke)能(neng)揭示溫度、壓(ya)力、組份、元素(su)(su)(su)的(de)(de)(de)(de)(de)氧化(hua)(hua)(hua)還原(yuan)性能(neng),時空因(yin)素(su)(su)(su)、應(ying)力因(yin)素(su)(su)(su)等物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)(xue)條件上的(de)(de)(de)(de)(de)差異,從(cong)而引起(qi)對復(fu)雜(za)的(de)(de)(de)(de)(de)地(di)(di)質(zhi)(zhi)作用(yong)認(ren)識上的(de)(de)(de)(de)(de)深化(hua)(hua)(hua),進(jin)一步促進(jin)成(cheng)因(yin)礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)學(xue)(xue)(xue)(xue)、地(di)(di)球(qiu)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)(xue)、礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)床學(xue)(xue)(xue)(xue)甚至構造(zao)學(xue)(xue)(xue)(xue)的(de)(de)(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)。從(cong)固(gu)體(ti)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)、量子(zi)(zi)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)(xue)和(he)晶體(ti)結構入手來解(jie)釋這(zhe)些晶體(ti)缺陷和(he)雜(za)質(zhi)(zhi)元素(su)(su)(su)的(de)(de)(de)(de)(de)陰(yin)極發(fa)光(guang)信(xin)息,闡明微觀現象和(he)宏觀現象的(de)(de)(de)(de)(de)內在(zai)(zai)聯系是(shi)今(jin)后礦(kuang)(kuang)(kuang)(kuang)物(wu)(wu)(wu)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)(li)發(fa)展(zhan)的(de)(de)(de)(de)(de)一個(ge)重要方(fang)(fang)向(xiang)。
MonoCL4是GATAN公司生產的 世 界 領 先 的陰極發光(CL)系統中的一代。MonoCL成為高分辨陰極發光成像及光譜分析的代名詞己經超過15年,已成功安裝在成百上千的掃描電鏡、透射電鏡和電子探針上。MonoCL4在性能和功能上的進展使其繼續站在CL領域的前yan。
MonoCL4的設計使用直接耦合腔式單色器與高效率探測器。該設計的優勢在于使陰極發光的采集效率達到zui大化。這種方式的光損失低,并在很寬的光譜范圍內獲得大的靈敏度,從而使MonoCL4擁有高的靈敏度。因而可實現:
•低注入量,獲得高空間分辨率,避免非平衡狀態的產生及光誘導假象;
•窄帶寬操作,獲得高光譜分辨率及單色成像;
•縮短采集時間,提高使用效率;
•為更多的樣品提供CL應用.甚至可應用在某些束流有限的SEM;
•為產(chan)生陰極發光體(ti)積元有限的樣品提供CL分析。比(bi)如薄(bo)膜(mo)、納(na)米(mi)線、納(na)米(mi)顆粒和TEM樣品等(deng)。
采集鏡
1、可伸縮、可拆卸、金剛石加工的拋物面形CL采集鏡,標準伸縮距離為75mm
2、具有LED采集鏡位置指示器。
*3、采集鏡厚度為8.75 mm
光譜儀
4、直接耦合腔式單色器與高效率探測器,與腔式單色儀直接光學耦合,達到陰極發光的采集效率大。
5、高效消色差光學。
6、馬達驅動的反射鏡,用于切換全色模式與單色模式。
7、配備分光器:1200 l/mm 500nm 閃 耀 波長的光柵,可對任一波長進行單光成像并可結合全光光譜圖
8、千分尺狹縫,用于控制光譜分辨率和帶通。
9、直列4位置過濾架,包括可移動的RGB過濾片。
10、內置ITSL光譜校正燈。
11、對應于每個探測器與衍射光柵組合的系統響應曲線(350nm到探測器的ji限)。
12、自動控制全光分光調節裝置,可得全光影像,單光影像及譜圖
探測器
13、內置前置放大器的PMT探測器,波長范圍185nm~ 850nm
控制器
14、PA4控制器,用于控制單色儀和探測器。
15、手動遠程控制器,用于成像控制和PMT高壓的數字讀出。
軟件:
*16、配置 Digital Micrograph軟件,用于系統控制,數據記錄、存檔、展示與輸出。
MonoCL4軟件插件,用于控制單色器、探測器和光譜的串行采集。啟動儀器時將自動運行光譜校準程序,以及多個高斯曲線擬合的脈沖計數光譜程序。
電腦:
17、帶Windows系統的計算(suan)機與22英寸(cun)的寬屏顯示(shi)器。