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Prisma E SEM-環境掃描鎢燈絲電鏡
Prisma E SEM是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡(SEM),在各種條件下都能有出色的性能。基于其低真空和環境掃描的SEM (ESEM)模式,它完全具備分析不導電,含氣體、水分或其它非常規測試的樣品。
咨詢電話:400-1001-303

     Prisma E SEM是一款(kuan)高(gao)度靈活的(de)(de)(de)掃描電子顯微鏡 (SEM),在(zai)各種條件下都能(neng)有出色的(de)(de)(de)性(xing)能(neng)。基于其低真空和環(huan)境真空 (ESEM)模式,它(ta)(ta)完全具備分析不導(dao)電、含氣、含水或(huo)其它(ta)(ta)非常規測試的(de)(de)(de)樣品。Prisma E SEM的(de)(de)(de)高(gao)度靈活性(xing)、便捷使用性(xing)以及對樣品的(de)(de)(de)寬泛適用性(xing),是多用戶實驗室的(de)(de)(de)理想選擇。

產品參數

     發(fa)射源:鎢燈絲(高性能電(dian)子(zi)光學鏡筒,雙(shuang)陽極熱發(fa)射電(dian)子(zi)槍)


     分辨率:
     高真空成像 3.0nm@ 30kV(SE);8.0 nm@ 3kV(SE)
     低(di)真空成(cheng)像 3.0nm@ 30kV(SE);4.0 nm@ 3kV(BSE);10nm@ 3kV(SE)
     環境掃描模式成像 3.0nm@ 30kV(SE)
     放大(da)倍數:5 ~ 1,000,000×(寶麗來相(xiang)紙放大(da))


     加(jia)速電壓范圍:200V ~ 30kV 

     探(tan)針電(dian)流范(fan)圍:可達到(dao)2μA,連續可調;

     低真空范(fan)圍:高達130Pa;

     ESEM真空范圍:高達2600Pa(H2O)/4000Pa(N2);

     X-Ray工作距離(li):10mm,EDS檢出(chu)角35°

     樣品(pin)(pin)室(shi):從左至右為340mm寬的大(da)存儲空間,樣品(pin)(pin)室(shi)可拓展(zhan)接(jie)口(kou)(kou)數量(liang)12個(ge),含能譜儀接(jie)口(kou)(kou)3個(ge)(其中(zhong)2個(ge)處于180°對角位置)

     樣品臺(tai):五軸優中(zhong)心全自(zi)動(dong)(dong)馬(ma)達驅動(dong)(dong)
     X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15º~90º,R=360º (連續旋轉)
     多用途SEM樣品(pin)安裝載(zai)物(wu)臺,可同(tong)時(shi)放置(zhi) 18 個標準樣品(pin)座(φ12mm)
     高(gao)度不低于(yu)200mm
     承重 5 kg

     探測(ce)器系統:
     高真空二次(ci)電(dian)子(zi)探(tan)測(ce)器ETD
     樣(yang)品室內IR紅外相(xiang)機(ji)CCD
     低(di)真空二次電子探測器LVD
     氣體(ti)二次電子探測器GSED(環境真空)


     控制系(xi)統:
     操作系統:Windows 10
     圖像顯示(shi):24寸LCD顯示(shi)器,分辨率1920×1200
     支持用戶自定(ding)義的GUI,可同時實時顯示四幅圖像
     軟件支(zhi)持(chi)Undo和(he)Redo功能(neng)

 

     ☆ 方(fang)便快捷地(di)加載多(duo)種樣品和重樣品;

     ☆ 基(ji)于Thermo ScientificTM Nav-CamTM相機和蒙太奇導航功能簡化樣品導航;

     ☆ 便捷性的用(yong)戶指(zhi)南和撤消功能;

     ☆ 先進的掃描模式和電(dian)子束減速確保圖像質量;

     ☆ Thermo ScientificTM ColorSEMTM技術下(xia)進行(xing)直觀(guan)的(de)元素(su)分析;

     ☆ 真空模式,具備強大的樣(yang)品兼容性;

     ☆ 環(huan)境(jing)掃(sao)描(miao)模式能(neng)夠在材料(liao)的自然狀態下(xia)成像;

     ☆ 可集(ji)成冷/熱臺進行易于控制的(de)動態實驗;

     ☆ 廣(guang)泛選擇的(de)探測器和附件,包括(kuo)掃描透射(she)電 (STEM)、陰(yin)極發(fa)光(guang)、圖像(xiang)拼接等(deng)

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