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Apreo 2 高分辨場發射掃描電鏡
Thermo Scientific Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡搭載實時元素成像功能和先進的自動光學系統,實現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。
咨詢電話:400-1001-303

     Thermo Scientific Apreo 2 SEM場(chang)發(fa)射(she)掃描電(dian)鏡搭載實(shi)時元(yuan)素成像(xiang)功能和先進(jin)的自動光(guang)學系統,實(shi)現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于(yu)研究本身(shen)。

     Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多(duo)功(gong)能(neng)(neng)性(xing)和高質量成(cheng)像性(xing)能(neng)(neng),采用(yong)了(le)創(chuang)新(xin)性(xing)的末(mo)級(ji)透鏡(jing)(jing)設計(ji),引(yin)入(ru)靜電式末(mo)級(ji)透鏡(jing)(jing),支持鏡(jing)(jing)筒內高分(fen)(fen)(fen)(fen)辨率(lv)檢測,即使是針(zhen)對磁(ci)性(xing)樣品(pin)也(ye)可實(shi)現(xian)ji佳成(cheng)像及(ji)分(fen)(fen)(fen)(fen)析性(xing)能(neng)(neng)。Apreo 2 SEM在原有性(xing)能(neng)(neng)基礎上(shang),新(xin)一步優(you)化了(le)高分(fen)(fen)(fen)(fen)辨成(cheng)像能(neng)(neng)力,并且增設許多(duo)新(xin)功(gong)能(neng)(neng)提升(sheng)其易用(yong)性(xing)。Apreo 2 SEM在耐用(yong)的SEM平(ping)臺上(shang)引(yin)入(ru)了(le)SmartAlign(zhi能(neng)(neng)對中)技術(shu),不再(zai)需要(yao)(yao)用(yong)戶手動(dong)進行調整操作(zuo)(zuo),而(er)且,FLASH自動(dong)執行精(jing)細(xi)調節工(gong)作(zuo)(zuo),只(zhi)需移動(dong)鼠(shu)標幾次(ci),就(jiu)可以完成(cheng)必要(yao)(yao)的透鏡(jing)(jing)居中、消像散和聚(ju) 焦矯正。此外(wai),Apreo 2 SEM可以在10mm分(fen)(fen)(fen)(fen)析工(gong)作(zuo)(zuo)距離(li)下(xia)具有1nm分(fen)(fen)(fen)(fen)辨率(lv)的SEM,遠的工(gong)作(zuo)(zuo)距離(li)不再(zai)意味著低(di)分(fen)(fen)(fen)(fen)辨成(cheng)像,系統還(huan)可 升(sheng) 級(ji)實(shi)時(shi)元素譜/圖(tu)成(cheng)像功(gong)能(neng)(neng),顛覆(fu)了(le)幾十年來傳統SEM-EDS固(gu)有的元素分(fen)(fen)(fen)(fen)析流(liu)程,將元素分(fen)(fen)(fen)(fen)析效率(lv)提升(sheng)2倍有余。 Apreo 2 SEM,任(ren)何用(yong)戶都可以輕松(song)地得到 優(you) 質的分(fen)(fen)(fen)(fen)析效果。

產品參數

     發射(she)源:穩定型肖特基場發射(she)電(dian)子槍

     分辨(bian)率:

     加速電(dian)壓范圍:200 V ~ 30 kV
     著陸(lu)電壓范(fan)圍:200 eV ~ 30 keV
     探針(zhen)電流(liu)范圍:1 pA ~ 50 nA,連續可調(diao)(可選配400 nA)
     大水平(ping)視場寬度:10 mm WD時為3 mm(相當(dang)于 zui 低(di)放大倍率29倍)
     X-Ray工作(zuo)距離:10 mm,EDS檢(jian)出角(jiao)35°
     樣品室:從(cong)左至右為340mm寬的大(da)存儲空間,樣品室可拓展接口數量12個,含能譜儀(yi)接口3個(其中2個處于180°對(dui)角位(wei)置)
     樣品臺:五軸優中心全(quan)自動(dong)馬達驅動(dong)X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15º~90º,R=360º (連續旋轉)
     多用途SEM樣(yang)品安(an)裝(zhuang)載(zai)物臺,可同時(shi)放置 18 個標準(zhun)樣(yang)品座(φ12mm)


     探測器系(xi)統:
     樣品室二次電子探(tan)測器(qi)ETD
     鏡筒內背散射電子探(tan)測器T1
     鏡筒內二次電子(zi)探測器T2
     鏡筒內二(er)次電子探(tan)測器T3(選配)
     樣品(pin)室內IR-CCD紅外相機(觀(guan)察樣品(pin)臺高度)
     圖(tu)像導航(hang)彩色光學相機Nav-Cam+™
     樣品室低真空(kong)二次電子探(tan)測器(選(xuan)配)
     可伸(shen)縮透鏡下背散射探測(ce)器(選(xuan)配)


     控制系(xi)統:
     操作系統:Windows 10
     圖像顯(xian)示:24寸LCD顯(xian)示器,zui高顯(xian)示分(fen)辨(bian)率1920×1200
     支持用(yong)戶自(zi)定義的GUI,可同時實時顯示四幅圖像(xiang)
     軟件(jian)支持(chi)Undo和Redo功能

 

     ☆ 全面解析

     全面的納米和亞納米分(fen)辨率(lv)性能,適用(yong)于(yu)納米顆(ke)粒、粉末、催化劑、納米器件(jian)、大塊(kuai)磁性樣(yang)品(pin)等材料(liao);


     ☆ 極 佳的靈(ling)活性

     非常靈(ling)活(huo)的(de)處理范圍(wei)廣泛的(de)樣品類型,包括(kuo)絕緣體,敏感材料,或(huo)磁性樣品,并收(shou)集對您的(de)應用重要(yao)的(de)數據(ju);


     ☆ SmartAlign技術(shu)

     使用SmartAlign技術(智 能調整(zheng)光學系統),實現光學系統自動調整(zheng),減少維護時間;


     ☆ 先進的自動化

     先進的(de)自動化包括FLASH自動圖像(xiang)微調(diao)、撤銷、用戶(hu)向導、Maps成像(xiang)拼接(jie)的(de)FLASH技術;


     ☆ 實時(shi)定量EDS

     元素信(xin)息觸手可及,利(li)用ColorSEM技(ji)術,提供實時元素面分(fen)布成像定量分(fen)析,結(jie)果獲取更加快速、簡便(bian);


     ☆ 標準工作流操作

     內置了User Guidance(用戶(hu)工(gong)作流)功能,無論是(shi)(shi)初學者(zhe)還是(shi)(shi)經驗豐(feng)富,都能夠(gou)快速上手,并穩定獲取實驗數據。

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