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FIB-TEM
某行業國外粉末顆粒競品,需觀察分析樣品在某一反應前后顆粒微結構的變化。委托OPTON對樣品進行TEM表征分析。
1、利用EBSD技術,對粉末顆粒的取向進行標定
2、對特定顆粒進行特定方向的FIB制樣
3、對樣品進行TEM觀察
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清潔度分析
1、離子污染物檢測(參考標準JY/T 020-1996) 2、化學反應污染物化學成分檢測(參考標準 GB/T 17359-2012) 3、非離子污染物檢測 4、顆粒物檢測(參考 ISO 16232)
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生物醫藥測試
藥品包裝材料對保證藥品的穩定性起著重要作用,因而藥用包裝材料將直接影響用藥的安全性。由于藥品包裝材料(容器)組成配方、所選擇的原輔料及生產工藝的不同,導致不恰當的材料引起活性成分的遷移,吸附甚至發送化學反應,使藥物失效,有的還會有嚴重的副作用。
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掃描電子顯微鏡
型號: gemini 廠家: ZEISS 附件:原位熱臺、拉伸臺、EBSD、CL 分辨率:0.8nm(15kv)
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三維微納米CT
型號: Xradia 510Versa 廠家: ZEISS 空間分辨率:0.7微米 最大樣品尺寸:300mm CT技術在表征泥頁巖三維儲層方面有著巨大潛力,尤其是Nano-CT實現了納米級孔隙三維立體觀測,其分辨率可達到50~70nm,若結合圖像處理技術可以對泥頁巖儲層連通性各向異性和孔隙度等進行定量評價。
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電子探針
型號: JXA-8230 廠家: JEOL 附件:波譜儀(*3)、能譜儀(*1) 分析元素 :B-U 分 辨 率:3nm 電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器,可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外,還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。可以進行點、線掃描、面掃描分析。
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